Zref

Zref pozwala wykonać dwa rodzaje obliczeń z pomiarów pojedynczego kryształu dyfrakcji w celu określenia parametrów jednostkowej komórki. Jeśli skoncentrowane odbicia w 8 pozycjach na dyfraktometru z zref polecenia na jednolitym oprogramowaniem, ostateczne profile omega są przechowywane w pliku RFL. Profile refleksji zapisane w tym pliku mogą być następnie analizowane przez program WinIntegrStp, ponownie zainstalowane automatycznie i idealne położenia pików i parametry komórki można określić. Jeśli masz problemy ze szczytu kształtach, zautomatyzowany proces się nie powiedzie. Jeśli tak się stanie, można zmieścić i zintegrować szczyty ręcznie w WinIntegrStp i zapisać dopasowanych pozycji w zintegrowanym danych lub int pliku. Następnie odczytać pliku int się do tego programu, w którym można określić szczytowe pozycje skorygowane przez metody pozycji 8 i doprecyzowania parametrów komórek jednostki. Program będzie również odczytać pliki mat generowane przez Jedynka, dzięki czemu można wykonywać najmniejszych kwadratów na liście szczytowej bez uruchamiania Pojedyncze.